测控系统：1温度测量：Pt100铂电阻2控制装置：采用日本OYO(Ｕ－８２２７Ｓ－ＡＣＣＵ１)液晶触摸式可编程温度控制器，该控制器采用中文操作操作显示界面显示，可显示、设定试验参数、曲线、总运行时间、段总运行时间、加热器工作状态、预约开关及日历时间等.控制程序的编制采用人机对话方式，界面友好，仅需设定温度就可实现制冷机的自动运行功能.可选配备RS485计算机通讯接口及计算机上、下机计算机辅助控制系统装置，实现连机数据传输及远程控制功能；3系统设定精度：温度：0!

福建质量好冷热冲击试验箱供应商

　　5-86温度冲击试验；GJB360。7-87温度冲击试验；GJB362-87405温度冲击试验.冷热冲击试验箱特点：·温度冲击试验箱分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独有之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；·可由测试孔外加负载配线测试部件；·大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然；·全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统；·具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷；·可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能；·可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能；·可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜；·控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全！

　　1℃,时间：1S；4用户程序容量：120组，1200段用户程序；5运行方式：程序运行，恒定运行；冷热冲击试验箱主要适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的上佳助手。冷热冲击试验箱主要分为两类：两箱式冷热冲击试验箱和三箱式冷热冲击试验箱；两箱式冷热冲击试验箱是由两个测试箱组成的，一个是高温箱、一个是低温箱，他们中间通过测试篮连接，测试篮是运动的，在高、低温箱之间切换，从而达到温度骤变的测试效果.

　　2空气循环装置：内置空气间、循环风道、及不锈钢长轴通风机，使用有效的制冷机和能量调节系统，通过有效通风机进行有效的热交换，达到实现温度变化之目的！通过改善空气的鼓风气流，提高了空气流量及与加热器和空气表冷器的热交换能力，能过出风口可高式风栓的调节，从而大幅度改善了试验箱的温度均匀度性；3空气加热方式：镍铬合金电加热器；4空气冷却方式：多级膜式空气热交换器；（机械制冷）箱体结构：1结构采用三箱式结构，试品不用移动!

　　采用能效比级高的谷轮压缩机，低温室可低至预冷到-70℃。通过气缸驱动，切换风门，实现温度转换.有效的蓄冷热技术，可以有效地降低设备能耗.操作简单方便，循环次数可调，控制稳定准确。专业的风道设计，使试品对空气温度的剧烈变化具有快速的响应。有效的自动除霜功能，可以长时间运行！2箱体外壁材料：SUS304不锈钢拉丝板；3箱体内壁材料：SUS304镜面不锈钢,耐腐蚀，易清洗；4样品架承重：≤15kg；5观察窗：240×350矩形多层中空玻璃观察窗；6电缆孔：工作室φ50一个!

　　后制冷剂经截流阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低！制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从达到降温之目的。3制冷剂：R404A+R23。4冷却方式：壳管式水冷冷凝器(低压循环)、板式双级联式蒸发冷凝器(高压循环)；5制冷辅助件：主要制冷配件及控制器件均采用进口原件。空气调节系统：1空气调节方式：强制通风内循环，平衡调温法(BTC)！该方法既指在制冷系统连续工作的情况下，控制系统根据设定之温度点通过PID自动运算输出的结果去控制加热器的输出量，终达到一种动态平衡.

　　三箱式冷热冲击试验箱主要由箱体部分、制冷系统、循环风系统及测控系统组成：制冷系统：1制冷系统及压缩机：为了保证试验箱降温速率和低温的要求，本试验采用一套2×5HP法国泰康全封闭压缩机所组成的二元复叠式制冷系统！该型号压缩机比普通型号压缩机制冷量提高20%左右，即制冷量大能耗低!复叠式系统包含一个高压制冷循环和一个低压制冷循环，其连接容器为蒸发冷凝器，蒸发冷凝器的功能为将低压循环的蒸发器作为高压循环的冷凝器之用!　　自泛华测控率先将虚拟仪器技术引进中国以来，凭借多年丰富的经验积累，逐步形成了自主的测控技术与产品。“电子产品通用功能测试系统”智能化的设计，秉承了泛华测控精益求精的理念传统；基于优秀的计算机图形化测控软件LabVIEW的开发平台，以先进的自动化检测代替落后的人工检测，彻底排除了人为因素对检测的影响。“用户自定义”是其最大的亮点，即用户在流程设置中可自行定义测试步骤、测试参数、按需设置外接设备和测试点。“电子产品通用功能测试系统”还支持近40种信号、100余种参数的生成和测量，典型单步测试时间≤30ms，测试精度≤0.1%，满足了高效、准确的测试需求。