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　　硅光子自动探针系统，光电测试芯片光耦合、TS3000-SiPH硅光子自动测试解决方案TS3000-SiPH功能集提供：高精光纤对准系统，在双或单的定-位-器设置中为单个或光纤阵列提供很大的灵活性通过将晶圆包括在光纤接近检测和光纤防撞中，实现安全的操作推荐的器件测试温度为-40！100°C;系统性能-60！300°C通过在测量架中集成额外的硅光子仪器，大限度地减少系统占用空间TS3000-SiPH硅光子自动测试解决方案!

　　易捷测试（GBIT）致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装系统以及材料测试等系统集成方案。特别是我们提供的探针台系统，已被全球客户广泛地应用于I-V／C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、光电器件测试，硅光子测试、晶圆级失效分析、芯片光耦合，霍尔测试，CP测试等晶圆测试环节。经营产品包括：大功率探针台；2）150mm探针台；3）200mm自动探针台；4）300mm全自动探针台，5）6寸手动探针台，8寸自动探针台，12寸自动探针台，6）在片测试，7）探针台控制软件；8）高低温探针台；9）探针台CASCADE；10）全自动探针台；11手动探针台；12）半自动探针台；13）太赫兹探针台；14）毫米波探针台；15）硅光探针台；16）辐照探针台；17）高压高流测试系统，18）CP测试系统；19）射频探针台。

　　硅光探针台TS3000，光电测试系统，硅光子测试易捷测试供应的手动探针台，半自动探针台主要应用于芯片测试、晶圆测试、在片测试、射频探针、射频校准、芯片光耦合、功放测试，存储芯片测试，S参数测量，功率器件测试，芯片CP测试，MEMS测试，CONTROLLER测试，PA测试，MMIC，存储器件测试，大功离线地图半导体测试，晶圆可靠性测试，功率芯片测试，on-wafertest易捷测试（GBIT）致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装系统以及材料测试等系统集成方案.

河源全自动探针台系统

　　半自动探针台，微波射频测试，电感RF测试，直流光电测试利用易捷在片测试软件控制全自动机台，搭配直流定-位-器和直流探针，进行蓝膜上PD器件DC自动测试，射频测试，直流光电测试，MEMS器件测试，射频光电测试、功率器件在片测试！TS2000-SE准确可靠的射频和微波测量，失效分析，可靠性测试MPI的TS2000-SE是市场上头款200mm自动化工程探测系统，集成了专为降低测试成本而设计的新功能!这些功能集成在MPIShielDEnvironment™中，可实现超低噪声，非常准确和高度可靠的DC/CV，RF和高功率测量！