产品用途

高低温冲击试验箱又名冷热冲击机、高低温冲击试验机、冷热冲击试验机等。用于电子电器零组件、自动化零部件、汽车配件、金属、塑胶等行业。测试其材料对高低温反复抵拉力以及产品对其产品及材料进行高温与低温之间的瞬间变化环境下检验其各项性能指标。

应用领域

消费性电子工业，光电产业，生物科技，学术研究单位，医疗保险产业，航太工业，半导体工业，通讯工业，高低温冲击试验箱销售,其他试验箱及气候设备相关，高低温冲击试验箱销售,正宗恒温试验设备，汽车工业，资讯工业。

满足标准

Ø GJB150.5A  温度冲击试验

Ø GB/2423.13-2002  温度冲击试验

Ø GJB360B  温度冲击试验

Ø GB2423.1-2008 / IEC6008-2-1-2007 低温实验方法

Ø GBT2423.2-2008  高温实验方法

Ø GBT10589-2008 低温试验箱技术条件

Ø GBT11158-2008  高温试验箱技术条件规格

Ø BS EN 2591-323-1998 电气和光学连接元件，温度冲击试验                

Ø GJB 595.4-1988 炮兵光学仪器环境试验方法  温度冲击试验              

Ø GJB 150.5-1986 军用设备环境试验方法 温度冲击试验                    

Ø GJB 797.4-1990 地雷爆破器材环境试验方法  温度冲击试验              

Ø  HB 5830.10-1984 机载设备环境条件及试验方法  温度冲击试验                

Ø QJ 1177.5-1987 地空、舰空系统环境试验方法  温度冲击试验        

Ø QJ 1184.3-1987 海防环境规范  弹上设备   温度冲击试验              

Ø SJ 20115.3-1992机载雷达环境条件及试验方法  温度冲击试验              

Ø WJ 1743.4-1987  1301灭火瓶环境试验

Ø 国家相关标准要求、双方签订之“技术协议书”

产品用途

高低温冲击试验箱又名冷热冲击机、高低温冲击试验机、冷热冲击试验机等。用于电子电器零组件、自动化零部件、汽车配件、金属、塑胶等行业。测试其材料对高低温反复抵拉力以及产品对其产品及材料进行高温与低温之间的瞬间变化环境下检验其各项性能指标。

应用领域

消费性电子工业，光电产业，生物科技，学术研究单位，医疗保险产业，航太工业，高低温冲击试验箱销售,高低温试验箱相关，上海沪升仪器设备有限公司,沪升仪器设备,半导体工业，通讯工业，汽车工业，资讯工业。

满足标准

Ø GJB150.5A  温度冲击试验

Ø GB/2423.13-2002  温度冲击试验

Ø GJB360B  温度冲击试验

Ø GB2423.1-2008 / IEC6008-2-1-2007 低温实验方法

Ø GBT2423.2-2008  高温实验方法

Ø GBT10589-2008 低温试验箱技术条件

Ø GBT11158-2008  高温试验箱技术条件规格

Ø BS EN 2591-323-1998 电气和光学连接元件，温度冲击试验                

Ø GJB 595.4-1988 炮兵光学仪器环境试验方法  温度冲击试验              

Ø GJB 150.5-1986 军用设备环境试验方法 温度冲击试验                    

Ø GJB 797.4-1990 地雷爆破器材环境试验方法  温度冲击试验              

Ø  HB 5830.10-1984 机载设备环境条件及试验方法  温度冲击试验                

Ø QJ 1177.5-1987 地空、舰空系统环境试验方法  温度冲击试验        

Ø QJ 1184.3-1987 海防环境规范  弹上设备   温度冲击试验              

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Ø WJ 1743.4-1987  1301灭火瓶环境试验

Ø 国家相关标准要求、双方签订之“技术协议书”

产品用途

高低温冲击试验箱又名冷热冲击机、高低温冲击试验机、冷热冲击试验机等。用于电子电器零组件、自动化零部件、汽车配件、金属、塑胶等行业。测试其材料对高低温反复抵拉力以及产品对其产品及材料进行高温与低温之间的瞬间变化环境下检验其各项性能指标。

应用领域

消费性电子工业，光电产业，生物科技，学术研究单位，医疗保险产业，航太工业，半导体工业，通讯工业，汽车工业，资讯工业。

满足标准

Ø GJB150.5A  温度冲击试验

Ø GB/2423.13-2002  温度冲击试验

Ø GJB360B  温度冲击试验

Ø GB2423.1-2008 / IEC6008-2-1-2007 低温实验方法

Ø GBT2423.2-2008  高温实验方法

Ø GBT10589-2008 低温试验箱技术条件

Ø GBT11158-2008  高温试验箱技术条件规格

Ø BS EN 2591-323-1998 电气和光学连接元件，温度冲击试验                

Ø GJB 595.4-1988 炮兵光学仪器环境试验方法  温度冲击试验              

Ø GJB 150.5-1986 军用设备环境试验方法 温度冲击试验                    

Ø GJB 797.4-1990 地雷爆破器材环境试验方法  温度冲击试验              

Ø  HB 5830.10-1984 机载设备环境条件及试验方法  温度冲击试验                

Ø QJ 1177.5-1987 地空、舰空系统环境试验方法  温度冲击试验        

Ø QJ 1184.3-1987 海防环境规范  弹上设备   温度冲击试验              

Ø SJ 20115.3-1992机载雷达环境条件及试验方法  温度冲击试验              

Ø WJ 1743.4-1987  1301灭火瓶环境试验

Ø 国家相关标准要求、双方签订之“技术协议书”