工作原理编辑广播荧光材料在一定波长（激光谱）光辐射后，电子吸收光子从低能级转移到激发态高能级，从高能级转移到低能级辐射跳跃。激励停止后，激励荧光通常以指数的形式衰减.激励脉冲终止后，激励脉冲终止时间t1，衰落信号的强度值为I0，当衰落信号达到第二值I0/e时间为t2！t1和t2的间隔是指数下降信号的时间常数τ，时间常数τ荧光寿命可用于测量!研究表明，荧光寿命在不同的环境温度下也有所不同，荧光寿命与温度的关系可以用以下公式来表示：公式中，RE、RT、k、ΔE均为常数；T是温度.

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　　内部模块化集成设计，美观合理.光纤温度测量技术是近年来发展起来的一种新技术，并逐渐显示出一些优良的特点！它是对传统温度测量方法的补充和改进。充分发挥其优势，创造新的温度测量方案和技术应用，如下：强电磁场下的温度测量。高频和微波加热方法正逐渐扩展到以下领域：金属高频熔化、焊接淬火、橡胶硫化、木材和织物干燥、制药、化学甚至家庭烹饪！光纤温度测量技术在这些领域具有很大的优势，因为它既没有导电部件引起的额外加热，也没有受到电磁场的干扰.

　　多组分石英材料，灵活性好，抗弯曲；特殊护套，耐高温、防污闪、耐爬电；尺寸小，对测量体影响小。荧光光纤温度传感器完全非金属结构，由化学惰性稀土材料制成!荧光探头几乎可以在任何环境中安全使用，不受的影响EMI干扰、尺寸小、测温精度高、响应时间快、性能稳定等特点！可直接粘接到理想的待测部位，同时不会影响到开关柜设备本身的绝缘和耐压性能.应用编辑播报超高压电气设备热点测温；机床热点测温；轨道交通设备、石油化工设备、生物医疗设备、工业微波设备、钢铁冶金设备、食品安全设备热点测温!

多通道光纤测温

　　当荧光材料以某种方式受到激励时，电子从高能状态到低能状态的跳跃就会发出荧光!随着时间的推移，激发产生荧光的强度会逐渐减弱!理论上，荧光强度衰减曲呈指数形!当荧光强度从激发产生的光强降低到原始光强的1/e当时，这个过程所经历的时间是荧光寿命。研究证明，荧光寿命会随着温度的变化而变化；外部温度可以通过测量荧光寿命来获得.当温度升高时，荧光衰变的时间常数会减少!典型的荧光光纤温度传感系统主要包括光源及解调单元、滤光、反射、透射光学系统、光路耦合及光纤传感系统、温度传感器及信号检测、数据处理系统、处理单元、温度数字显示系统等!

　　由于受激辐射能量按指数衰减，衰减时间常数因温度而异，因此测量点的温度是通过测量衰减时间来获得的.该方法是光纤单点温度测量.该技术已被证明可用于超高压（750KV）变压器绕组温度监测!传感器尺寸小，长期可靠性高，价格适中，不仅可以实现单柜配置，还可以建立温度监测系统，施工调试过程方便快捷！荧光光纤温度测量系统在高压开关柜触点、进出线、母排等位置实现了实时温度测量，比砷化镓半导体光纤温度测量更方便ing精度高，无需经常维护，解调仪体积小，安装方便.故障发生在微电网内部，如图2中F1处，F1发生点位于与逆变器1连接的母线1区域，故障探测输出Vq_fall，Vq_fall输出波形与故障发生区域是对应的，根据波形可以识别判断故障发生的区域位置和类型。当Vq_fall输出超过给定阈值，该信号可用于断路器控制，以切断故障区域保护微电网，且与逆变器2连接的母线2上测量到的Vq_fall信号小于阈值，故母线区域2内保护继电器不动作;当Vq_fall输出小于给定阈值，则继续检测电网。故障发生在微电网外部，如图2中F2处，由于参考信号值总是等于测量信号值，故Vq_fall总是等于零，微电网内的继电保护不会因为主电网短路电流而动作。