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AOI电镜_AOI

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深圳市易捷测试技术有限公司,简称易捷测试(GBIT),专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备,并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作,先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术,同时致力于供应国产自主可控半导体设备,整合国内用户需求,打造国内晶圆级在片测试,半导体封装工艺系统集成的稳定供应链,提供“量体裁衣”定制化改造服务。易捷测试提供AOI-wafer光学检查机晶圆光学检查机,简称AOI,可取代人工检查,达到检测一致性并缩短检测时间,大幅提升产能与产品质量的重要关键,操作员不接触wafer,避免了污染和损伤wafer。检查晶圆类别:崩边、破裂、划痕、刮伤、变色、保护层缺失、外来物、桥接等。

联系人:张女士

联系电话:18127076421

邮箱:dongni.zhang@gbit.net.cn

地址:深圳市福田区福虹路世界贸易广场C座1205A

 

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